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智能耦合电源类
Vpd耦合电源
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并口PIV测试系统类
USB测试系统类
 
PIV-TE激光器性能参数测试系统(俗称LIV)
 产品类别:并口PIV测试系统类 ->



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 产品说明:     PIV-TE测试系统是测试激光器在多种温度下光电性能参数专用设备,与温巡箱配合,可以测试任意指定波长的激光器在任意温度下的性能参数,并进行罗列对比。本系统支持7个温度的对比测试,实际温度可以由用户来设置。本系统体积小,基本不占用生产或研发空间,只需要工作电脑具有常规的配置和足够的数据存储空间,广泛适应通常的工作环境,除光输入口(探头)需要简单的日常清洁外,本系统几乎不需要维护。本系统具有设置灵活的分级系统管理管理权限,确保系统运行稳定:
  1. 可以设置的温度点数量:7个 以及一个无温度测试;
  2. 驱动电流:0——100mA;准确度优于最大值的0.5%;
  3. 光功率测试:0——7mW,光功率稳定度:<=2%;准确度优于5%;
  4. 背光电流测试:0——1500微安,监视电流稳定度:<=2%;准确度优于5%;
  5. 常规采集一个激光器的性能参数时间:<=0.8S;
  6. ****单元规格尺寸:110 X 110 X 50mm;
  7. 参数采集支持三种模式(系统支持光功率、背光电流、正向电压、阈值范围的检测):
    • 阈值+指定电流模式; 
    • 定值电流模式;
    • 定值光功率模式。
  8. PIV测试系统的硬件组成:
    • 电脑主机(含测试软件,10年使用权限);
    • 信号线;
    • ****测试单元;
    • 直流电源一个;
    • 720/725连接线各一根;

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